システム概要
「とんぼシリーズ」は電磁誘導方式で検査対象物体の表面、内部、裏側の傷などの欠陥を非接触で検出する非破壊検査装置です。 複数のセンサでアレイを構成することにより、高速で広範囲の測定が可能です。 アレイ状検出センサを曲面形状に配置することで、平面だけでなく曲面の検査物やパイプ状などの検査物にも対応できます。太陽パネル、太陽光セル、金属(磁性体・非磁性体)、リチウム電池、セパレータフィルム等、 多様な対象物への応用が可能です。屋外での外光や埃の影響を受けないので、設置後の太陽パネルなどの測定が可能です。
機器の特徴
シーンに合わせて測定可能!
微細な欠陥を検出可能!
独自の技術により目視では判別が困難な微細な欠陥を検出することが可能です。
広範囲な測定が可能!(ストリング・モジュールにも対応)
その他
・インライン高速検査にも適用可能 マルチセンシングによる同時計測と、 複数検査データの取り込みが可能となり、 検査対象物のインライン高速検査にも適用可能。 装置本体はコンパクトな設計になっており、既設のコンベアライン上に設置可能です。 ・多様な検査対象 曲面の検査物やパイプ状の検査対象物、金属(磁性体、非磁性体)など多様な検査対象にも対応可能です。
比べてわかる高機能
「とんぼシリーズ」は電子工学センター独自の電磁方式により製品に負荷を与えません。また光などの影響も受けないので設置場所も選びません。
機器構成例
※製品写真は16チャンネルラック収容モデルの例です
製品カタログ